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首頁 > 新聞中心 > 高低溫低氣壓試驗箱規（guī）範性引用（yòng）文件
| 高低溫低氣壓試驗箱規範性引（yǐn）用文件 |
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| 時間：2013/6/27 8:03:24 |
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標準號（hào）：GB/T2423.21-2008等同於國際通用標準IEC60068-2-13:1983電工（gōng）電子產品環境試驗第2部分試驗方法（試驗M低氣壓），適用於室溫條件下的低氣（qì）壓試驗，高低溫（wēn）低氣壓試驗（yàn）箱的試驗目的是用於確認元件、設備或其他產品在（zài）低氣壓條件下貯存、運輸或（huò）使用的適應性（注：在高溫和（hé）低氣壓綜合或低溫和低壓綜合環境（jìng）下貯存、運輸（shū）或使用的產（chǎn）品，這種綜（zōng）合環境對（duì）於施加於產品上的應力或失效機理的影響是十分（fèn）重要（yào）的，應按下列標準（zhǔn）進行試（shì）驗）：
GB/T 2423.25 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26 電工電子（zǐ）產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合（hé）試驗
高（gāo）低溫低氣壓試驗箱標準的條款是通過部分引用文件形成的，其新版本適用於本部分，引用文件如下:
GB/T 2421 電（diàn）工電子產品環境試驗 第（dì）1部分：總則（GB/T 2421-1999,IEC 600681-1：1988，IDT）
GB/T 2423.25 電工電（diàn）了產品（pǐn）環境試驗 第2部分：試（shì）驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423.25-2008，IEC 60068-2-40：1983,IDT）
GB/T2423.26 電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣（qì）壓綜合試驗（GB/T 2423.26-2008,IEC 60068-2-41：1983，IDT）
ISO2533 標準大氣
附 一（yī）般說明：
高低溫低氣壓試驗原理為：將試驗樣品放入試驗箱，然（rán）後將箱內（nèi）氣壓降低到相關規範（fàn）規（guī）定的值，並保持規定持續時間的試驗。 |
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