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高低(dī)溫試驗箱基本參數檢定方法標(biāo)準

時(shí)間(jiān):2013/7/5 8:03:50
 
    標準中製定了高(gāo)低溫試驗箱(xiāng)在進行周期檢定時的檢定(dìng)項(xiàng)目、檢定用主要(yào)儀器及要(yào)求、檢定條(tiáo)件、測量(liàng)點當我量及布(bù)放位置、檢定步驟、數據(jù)處理(lǐ)及(jí)檢(jiǎn)定結果等內容,適用於GB 2423.1-89《電工(gōng)電子產品(pǐn)基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法》、GB 2423.2-89《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B:高溫試(shì)驗方法》和GB 2423.22-87《電工電子產品(pǐn)基本環境試(shì)驗規程 試驗A:低溫試(shì)驗方法》、GB 2423.2-89《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N:溫度變化試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。
高低溫試驗箱基本(běn)參數檢(jiǎn)定方法的(de)製定引用了如下標準:
GB/T 5170.1-1995 電工電子產品(pǐn)環境試(shì)驗設備基本參數檢定方(fāng)法 總則
GB 2423.1-89 電工電(diàn)子產品基本環境試驗規程 試驗(yàn)A:低(dī)溫試驗方法
GB 2423.2-89 電(diàn)工電(diàn)子產品基本環境(jìng)試驗(yàn)規程 試驗B:高溫試驗方(fāng)法(fǎ)
GB 2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試(shì)驗方法
檢定項目為:溫度偏差、溫度平(píng)均變化速率、風速、相(xiàng)對濕度、溫度恢複時間。
 
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